V Школа молодых ученых по синхротронным методам исследования в материаловедении
Участник школы является полноценным участником международной конференции SKIF-2026, и может посещать все научные и культурные мероприятия конференции (лекции, доклады, экскурсии и пр.)
Очная регистрация всех участников конференции и школ начнется 18 октября в Доме ученых СО РАН.
организаторы
Школа проводится при финансовой поддержке Министерства науки и высшего образования РФ в рамках реализации проекта № 075-15-2025-459 "Научное обоснование и создание инфраструктуры на основе использования синхротронного излучения для диагностики функционально-градиентных материалов».
Комитеты
заведующий КафФМИТТ ФФ НГУ, главный научный сотрудник Отдела исследования катализаторов ИК СО РАН
Цыбуля Сергей Васильевич, заведующей кафедрой ФМИТТ ФФ НГУ
Каичев Василий Васильевич, заведующий отделом исследования катализаторов ИК СО РАН
Шефер Кристина Ивановна, к.х.н., старший преподаватель КафКиА ФЕН НГУ, старший научный сотрудник ЦКП «СКИФ»
Кардаш Татьяна Юрьевна, к.х.н., доцент КафХТТ ФЕН НГУ
Никулин Василий Викторович, заведующий лабораторией УНЛРСМИ ФФ НГУ
Яценко Дмитрий Анатольевич, к.ф.-м.н., доцент КафФМИТТ ФФ НГУ, старший научный сотрудник ИК СО РАН
Марчук Александр Сергеевич, старший преподаватель КафХТТ ФЕН НГУ, м.н.с. ИК СО РАН
Харченко Надежда Алексеевна, м.н.с. ИК СО РАН
Горкуша Александр Сергеевич, ассистент КафФМИТТ ФФ НГУ
Петров Иван Юрьевич, старший лаборант ЦРСНИ НГУ, инженер ИК СО РАН
Коновалова Валерия Павловна, м.н.с. ИК СО РАН
Михненко Максим Дмитриевич, ассистент КафФМИТТ ФФ НГУ, м.н.с. ИК СО РАН
научная программа
и стендовые доклады по следующим направлениям:
- Методики диагностики состава и структуры функциональных материалов с использованием рентгеновского, в том числе синхротронного, излучения
- Аппаратно-техническое и программное обеспечение синхротронных и нейтронных исследований
- Комплексные исследования структуры и свойств материалов с использованием дифракционных и спектральных методов
Этот раздел находится в стадии разработки
- Петр Валерьевич Конаревд.ф.-м.н.
НИЦ «Курчатовский институт»Исследование строения неупорядоченных систем методом малоуглового рентгеновского рассеяния - Александр Леонидович Тригубк.ф.-м.н.
НИЦ «Курчатовский институт»Изучение локальной атомной и электронной структуры методами рентгеновской абсорбционной спектроскопии - Виктор Николаевич Хрусталевд.х.н., профессор, профессор РАН
Российский университет дружбы народов имени Патриса ЛумумбыРазвитие и новые возможности метода рентгеноструктурного анализа в XXI веке - Сергей Васильевич Цыбуляд.ф.-м.н.
Институт катализа СО РАНМетоды полнопрофильного анализа в рентгенографии: области применения и ограничения
Регистрация, подача тезисов и презентация докладов
Тезисы докладов на русском языке объемом до двух страниц должны быть представлены в электронном виде как файл, загруженный на сайт школы. Файлы следует называть полной транслитерированной фамилией представляющего автора.
Для публикации тезисов необходимо предоставить экспертное заключение. Без экспертного заключения тезисы не будут опубликованы в сборнике тезисов.
PDF файл с экспертным заключением следует называть полной транслитерированной фамилией представляющего автора.
Сборник тезисов всех принятых докладов будет выпущен до начала школы. Электронному изданию сборника тезисов будет присвоен международный стандартный книжный номер (ISBN).
Для презентации устных докладов организационный комитет рекомендует подготовить презентацию в программе Microsoft Power Point.
Для презентации стендовых докладов рекомендуется подготовить постер стандартного формата А0 (ширина 841 мм, высота 1189 мм), книжная ориентация. Участники самостоятельно печатают постеры.
Участие без регистрационного взноса.
ключевые даты
контакты
Шефер Кристина Ивановна