Зубавичус Ян Витаутасович, доцент КафФМИТТ ФФ НГУ, главный научный сотрудник ЦКП «СКИФ» Цыбуля Сергей Васильевич, заведующей кафедрой ФМИТТ ФФ НГУ Каичев Василий Васильевич, заведующий отделом исследования катализаторов ИК СО РАН Шефер Кристина Ивановна, к.х.н., старший преподаватель КафКиА ФЕН НГУ, старший научный сотрудник ЦКП «СКИФ»
Организационный комитет
Председатель — Цыбуля Сергей Васильевич, д.ф.-м.н., заведующий КафФМИТТ ФФ НГУ, главный научный сотрудник Отдела исследования катализаторов ИК СО РАН
Шефер Кристина Ивановна, к.х.н., старший преподаватель КафКиА ФЕН НГУ, старший научный сотрудник ЦКП «СКИФ» Кардаш Татьяна Юрьевна, к.х.н., доцент КафХТТ ФЕН НГУ Никулин Василий Викторович, заведующий лабораторией УНЛРСМИ ФФ НГУ Яценко Дмитрий Анатольевич, к.ф.-м.н., доцент КафФМИТТ ФФ НГУ, старший научный сотрудник ИК СО РАН Марчук Александр Сергеевич, старший преподаватель КафХТТ ФЕН НГУ, м.н.с. ИК СО РАН Харченко Надежда Алексеевна, м.н.с. ИК СО РАН Горкуша Александр Сергеевич, ассистент КафФМИТТ ФФ НГУ Петров Иван Юрьевич, старший лаборант ЦРСНИ НГУ, инженер ИК СО РАН Коновалова Валерия Павловна, м.н.с. ИК СО РАН Михненко Максим Дмитриевич, ассистент КафФМИТТ ФФ НГУ, м.н.с. ИК СО РАН
научная программа
Научная программа Школы молодых ученых включает в себя пленарные лекции (50 минут), мастер-классы (2 часа), устные (10 минут) и стендовые доклады по следующим направлениям:
Методики диагностики состава и структуры функциональных материалов с использованием рентгеновского, в том числе синхротронного, излучения
Аппаратно-техническое и программное обеспечение синхротронных и нейтронных исследований
Комплексные исследования структуры и свойств материалов с использованием дифракционных и спектральных методов
научная программа
Научная программа Школы молодых ученых включает в себя пленарные лекции (50 минут), мастер-классы (2 часа), устные (10 минут) и стендовые доклады по следующим направлениям:
Методики диагностики состава и структуры функциональных материалов с использованием рентгеновского, в том числе синхротронного, излучения
Аппаратно-техническое и программное обеспечение синхротронных и нейтронных исследований
Комплексные исследования структуры и свойств материалов с использованием дифракционных и спектральных методов
Manage cookies
We use cookies to provide the best site experience.
Manage cookies
Cookie Settings
Cookies necessary for the correct operation of the site are always enabled. Other cookies are configurable.
By continuing to use the site, you agree to the processing of your personal data.